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SAT-based generation of compressed skewed-load tests for transition delay faults

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Dobai, Roland; Balaz, Marcel
  • 期刊名称Microprocessors and Microsystems
  • 作者Dobai, Roland; Balaz, Marcel
  • 卷第37卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0141-9331
  • 文件大小569.14KB
  • 发表时间2013-3
  • DOI10.1016/j.micpro.2012.09.002
  • 页码196-205
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