Hollow Co 3 O 4 microspheres with nano-sized shells: one-step large-scale synthesis, growth mechanism and supercapacitor properties
- 期刊名称RSC Adv.
- 作者Feng, Chao; Zhang, Jinfeng; Deng, Yida; Zhong, Cheng; Liu, Lei; Hu, Wenbin
- 卷第5卷
- 期第52期
- 电子ISSN2046-2069
- 文件大小1636.36KB
- 发表时间2015
- DOI10.1039/C5RA03052H
- 页码42055-42062
Application of Optical Microscopy and Scanning Electron Microscopy to the Study of Stone Weathering: A Cracow Case StudyMarszałek, Mariola · International Journal of Architectural Heritage · 2008
[OSA Bio-Optics: Design and Application - Vancouver (2015..-..)] Optics in the Life Sciences - Sub-mM Imaging of Carotenoids Using Electronic and Vibrational Nonlinear Optical MicroscopyBarlow, Aaron M.; Tabarangao, Joel T.; Ridsdale, Andrew; Stolow, Albert; Slepkov, Aaron D. · 2015
[Advances in Imaging and Electron Physics] || The Optical Transfer Theory of the Electron Microscope: Fundamental Principles and Applications ✶ ✶Reprinted from Advances in Optical and Electron Microscopy 4 (1971) 1–84. This work has been supported by Public Health Service Grant No. GM 11852-5.Hanszen, Karl-Joseph · 2018
SPIE Proceedings [SPIE 1988 Intl Congress on Optical Science and Engineering - Hamburg, Germany (Monday 19 September 1988)] Surface Measurement and Characterization - <title>Application Of Non-Stereoscopic Secondary Electron Microscopy And Optical Spectroscopy For The Evaluation Of A Pronounced Microroughness</title>Kohl, Michael; Walter, Thomas; Gindele, Karlhanns; Bennett, Jean M. · 1989
SPIE Proceedings [SPIE OE/LASE'93: Optics, Electro-Optics, & Laser Applications in Science& Engineering - Los Angeles, CA (Sunday 17 January 1993)] Scanning Probe Microscopies II - <title>Thermal imaging of electronic materials and devices using the Atomic Force Microscope</title>Majumdar, Arun; Carrejo, J. P.; Lai, J.; Chandrachood, M.; Williams, Clayton C. · 1993
[IEEE 2007 Quantum Electronics and Laser Science Conference - Baltimore, MD, USA (2007.05.6-2007.05.11)] 2007 Quantum Electronics and Laser Science Conference - Application of near field optical microscopy to the study of femtosecond laser micro-structured Nd:YAG crystalsLamela, J.; Jaque, F.; Torchia, G.A.; Mender, C.; Arias, I.; Roso, L.; Rodenas, A.; Jaque, D. · 2007
SPIE Proceedings [SPIE BiOS 2000 The International Symposium on Biomedical Optics - San Jose, CA (Saturday 22 January 2000)] Biomedical Applications of Free-Electron Lasers - <title>X-ray microscopy using FELs: possibilities and challenges</title>Jacobsen, Chris J.; Edwards, Glenn S.; Sutherland, John C. · 2000
REVIEWSBernasconi, John G.; Higgins, D. H.; Salmons, June; Davie, Mark; Watt, J. A.; Ellis, Steve; Panizza, Letizia; Procter, Johanna; Stephens, J. N.; Andrews, Richard; Catani, Remo; Aquilecchia, G.; Bullock, Alan; Richardson, Brian; Jones, Verina R.; Potts, Alex; Lindon, John; Davies, John A.; Cainen, J. B.; Thompson, Doug; Jones, F. J.; Caesar, Michael; Bryce, Judith; Hainsworth, Peter; Furlong, Paul; Clark, Martin; Moss, H. K. · Italian Studies · 1987
The maximum rate of mammal evolutionEvans, A. R.; Jones, D.; Boyer, A. G.; Brown, J. H.; Costa, D. P.; Ernest, S. K. M.; Fitzgerald, E. M. G.; Fortelius, M.; Gittleman, J. L.; Hamilton, M. J.; Harding, L. E.; Lintulaakso, K.; Lyons, S. K.; Okie, J. G.; Saarinen, J. J.; Sibly, R. M.; Smith, F. A.; Stephens, P. R.; Theodor, J. M.; Uhen, M. D. · Proceedings of the National Academy of Sciences · 2012
Mining Latin America / Minería Latinoamericana || Estimation practices for reserves of gold depositsAtkinson, W. J.; Auranen, I.; Barratt, D. J.; Berry, P.; Pantaleoni, G.; Piga, P.; Sammarco, O.; Bikerman, D. J.; Mahtab, M. A.; Bradford, W. H.; Dalton, R. F.; Severs, K. J.; Stephens K., G.; Davies, M. H.; Temple, D. A.; Diering, J. A. C.; Laubscher, D. H.; Dos Santos, J. A.; Stanisic, Z.; Escola, E.; Forbes, P. J.; Burden, J. J.; Gana, R. E.; Figueroa, M. G.; Parodi, A. A.; Hickman, R. N.; Hollick, C. T.; Collins, D. N.; Hopkins, W. R.; Cocquerel, M. A.; Jones, J. P.; Yamada, E. H.; Marques, C. G. M.; Yokoi, O. Y.; Yamamoto, M. F.; Kheok, S. C.; Kutschera, S.; Kwa, B. L.; Mousset-Jones, P.; McKee, D. J.; Bailey, C. W.; McKenzie, C. K.; Dawes, J. J.; Chitombo, G. P.; Martin, D. C.; Steenkamp, N. S. L.; Lill, J. W.; Mayo, E. G.; Casteel, K. D.; Mellish, M.; Preller, A. H.; Tutton, D. A.; Moreno, A.-M.; Ojeda F., J. M.; Ortiz, F. J.; Lowell, J. D.; Bratt, J. A.; Rojas, N. D.; Burns, P. J.; Premoli, C.; Filho, E. Silva; Price, R. F.; Smith, E. H.; Pino, F.; Sutulov, A.; Thomassen, T.; Gibbs, H. E.; Van Leyen, H.; Vidal A., M.; Gonzalez R., J.; Guajardo A., P.; Valdivia L., C.; Weber, B. H.; Zablocki, A.; Johansson, L. · 1986
Pensions on RetirementJolles, B.; Gledhill, W. C.; Phillips, J. H. C.; Alment, E. A. J.; Andrews, P. S.; Banham, A. R.; Bates, A.; Birkbeck, M. Q.; Bryan, W. E.; Coles, R. B.; Connell, M. C.; Crockett, G. S.; Cullen, T. H.; Dalgleish, A. T.; Davidson, T. K.; Dockrell, T. H.; Fisher, O. E.; Ford, H. T.; Gerrard, G.; Grabham, A. H.; Graham, A. N.; Hodgson-Jones, I. S.; Hollingsworth, G.; Jack, R. C.; Jennings, A. M. C.; Lambley, D. G.; Lee, R. O.; Lodge, A. B.; Long, K. M.; MacQuaide, D. H. G.; McLean, L. R.; Mitchell, W. R. D.; Mitford-Barberton, G. d. B.; O'Leary, N.; Page, J. R.; Partington, T.; Phillips, B. P.; Radcliffe, F.; Raphael, J.; Samtani, B. K.; Sever, E. D.; Sladden, R. A.; Smith, K. H.; Starkie, E. T. W.; Stephens, R.; Tasker, J. R.; Taylor, E. E. T.; Voss, H. J.; Waddy, F. F.; Wallace, P. E.; Wigglesworth, R.; Willis, P. E. · BMJ · 1966
Mining Latin America / Minería Latinoamericana || Modern drilling and blasting techniques in underground miningAtkinson, W. J.; Auranen, I.; Barratt, D. J.; Berry, P.; Pantaleoni, G.; Piga, P.; Sammarco, O.; Bikerman, D. J.; Mahtab, M. A.; Bradford, W. H.; Dalton, R. F.; Severs, K. J.; Stephens K., G.; Davies, M. H.; Temple, D. A.; Diering, J. A. C.; Laubscher, D. H.; Dos Santos, J. A.; Stanisic, Z.; Escola, E.; Forbes, P. J.; Burden, J. J.; Gana, R. E.; Figueroa, M. G.; Parodi, A. A.; Hickman, R. N.; Hollick, C. T.; Collins, D. N.; Hopkins, W. R.; Cocquerel, M. A.; Jones, J. P.; Yamada, E. H.; Marques, C. G. M.; Yokoi, O. Y.; Yamamoto, M. F.; Kheok, S. C.; Kutschera, S.; Kwa, B. L.; Mousset-Jones, P.; McKee, D. J.; Bailey, C. W.; McKenzie, C. K.; Dawes, J. J.; Chitombo, G. P.; Martin, D. C.; Steenkamp, N. S. L.; Lill, J. W.; Mayo, E. G.; Casteel, K. D.; Mellish, M.; Preller, A. H.; Tutton, D. A.; Moreno, A.-M.; Ojeda F., J. M.; Ortiz, F. J.; Lowell, J. D.; Bratt, J. A.; Rojas, N. D.; Burns, P. J.; Premoli, C.; Filho, E. Silva; Price, R. F.; Smith, E. H.; Pino, F.; Sutulov, A.; Thomassen, T.; Gibbs, H. E.; Van Leyen, H.; Vidal A., M.; Gonzalez R., J.; Guajardo A., P.; Valdivia L., C.; Weber, B. H.; Zablocki, A.; Johansson, L. · 1986
Mining Latin America / Minería Latinoamericana || Advances in solvent extraction for copper by optimized use of modifiersAtkinson, W. J.; Auranen, I.; Barratt, D. J.; Berry, P.; Pantaleoni, G.; Piga, P.; Sammarco, O.; Bikerman, D. J.; Mahtab, M. A.; Bradford, W. H.; Dalton, R. F.; Severs, K. J.; Stephens K., G.; Davies, M. H.; Temple, D. A.; Diering, J. A. C.; Laubscher, D. H.; Dos Santos, J. A.; Stanisic, Z.; Escola, E.; Forbes, P. J.; Burden, J. J.; Gana, R. E.; Figueroa, M. G.; Parodi, A. A.; Hickman, R. N.; Hollick, C. T.; Collins, D. N.; Hopkins, W. R.; Cocquerel, M. A.; Jones, J. P.; Yamada, E. H.; Marques, C. G. M.; Yokoi, O. Y.; Yamamoto, M. F.; Kheok, S. C.; Kutschera, S.; Kwa, B. L.; Mousset-Jones, P.; McKee, D. J.; Bailey, C. W.; McKenzie, C. K.; Dawes, J. J.; Chitombo, G. P.; Martin, D. C.; Steenkamp, N. S. L.; Lill, J. W.; Mayo, E. G.; Casteel, K. D.; Mellish, M.; Preller, A. H.; Tutton, D. A.; Moreno, A.-M.; Ojeda F., J. M.; Ortiz, F. J.; Lowell, J. D.; Bratt, J. A.; Rojas, N. D.; Burns, P. J.; Premoli, C.; Filho, E. Silva; Price, R. F.; Smith, E. H.; Pino, F.; Sutulov, A.; Thomassen, T.; Gibbs, H. E.; Van Leyen, H.; Vidal A., M.; Gonzalez R., J.; Guajardo A., P.; Valdivia L., C.; Weber, B. H.; Zablocki, A.; Johansson, L. · 1986
Genome Sequence of the Tsetse Fly (Glossina morsitans): Vector of African TrypanosomiasisAttardo, G. M.; Abila, P. P.; Auma, J. E.; Baumann, A. A.; Benoit, J. B.; Brelsfoard, C. L.; Ribeiro, J. M. C.; Cotton, J. A.; Pham, D. Q. D.; Darby, A. C.; Van Den Abbeele, J.; Denlinger, D. L.; Field, L. M.; Nyanjom, S. R. G.; Gaunt, M. W.; Geiser, D. L.; Gomulski, L. M.; Haines, L. R.; Hansen, I. A.; Jones, J. W.; Kibet, C. K.; Kinyua, J. K.; Larkin, D. M.; Lehane, M. J.; Rio, R. V. M.; Macdonald, S. J.; Macharia, R. W.; Malacrida, A. R.; Marco, H. G.; Marucha, K. K.; Masiga, D. K.; Meuti, M. E.; Mireji, P. O.; Obiero, G. F. O.; Koekemoer, J. J. O.; Okoro, C. K.; Omedo, I. A.; Osamor, V. C.; Balyeidhusa, A. S. P.; Peyton, J. T.; Price, D. P.; Quail, M. A.; Ramphul, U. N.; Rawlings, N. D.; Riehle, M. A.; Robertson, H. M.; Sanders, M. J.; Scott, M. J.; Dashti, Z. J. S.; Snyder, A. K.; Srivastava, T. P.; Stanley, E. J.; Swain, M. T.; Hughes, D. S. T.; Tarone, A. M.; Taylor, T. D.; Telleria, E. L.; Thomas, G. H.; Walshe, D. P.; Wilson, R. K.; Winzerling, J. J.; Acosta-Serrano, A.; Aksoy, S.; Arensburger, P.; Aslett, M.; Bateta, R.; Benkahla, A.; Berriman, M.; Bourtzis, K.; Caers, J.; Caljon, G.; Christoffels, A.; Falchetto, M.; Friedrich, M.; Fu, S.; Gade, G.; Githinji, G.; Gregory, R.; Hall, N.; Harkins, G.; Hattori, M.; Hertz-Fowler, C.; Hide, W.; Hu, W.; Imanishi, T.; Inoue, N.; Jonas, M.; Kawahara, Y.; Koffi, M.; Kruger, A.; Lawson, D.; Lehane, S.; Lehvaslaiho, H.; Luiz, T.; Makgamathe, M.; Malele, I.; Manangwa, O.; Manga, L.; Megy, K.; Michalkova, V.; Mpondo, F.; Mramba, F.; Msangi, A.; Mulder, N.; Murilla, G.; Mwangi, S.; Okedi, L.; Ommeh, S.; Ooi, C.-P.; Ouma, J.; Panji, S.; Ravel, S.; Rose, C.; Sakate, R.; Schoofs, L.; Scolari, F.; Sharma, V.; Sim, C.; Siwo, G.; Solano, P.; Stephens, D.; Suzuki, Y.; Sze, S.-H.; Toure, Y.; Toyoda, A.; Tsiamis, G.; Tu, Z.; Wamalwa, M.; Wamwiri, F.; Wang, J.; Warren, W.; Watanabe, J.; Weiss, B.; Willis, J.; Wincker, P.; Zhang, Q.; Zhou, J.-J. · Science · 2014
Image analysis and simulation software in transmission electron microscopyStadelmann, P · Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada · 2003
Lenses for Electron Microscopy and Microanalysis: Shadowgraph Method of Determining Focal Properties and Aberration CoefficientsRempfer, Gf; Fyfield, Ms; Griffith, Oh · Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada · 1998
Quantitative serial sectioning analysis: previewDeHoff, R. T. · Journal of Microscopy · 1983
The Melbourne proton microprobeLegge, G. J. F.; McKenzie, C. D.; Mazzolini, A. P. · Journal of Microscopy · 1979
Stereology of arbitrary particles*Gundersen, H. J. G. · Journal of Microscopy · 1986
Low voltage scanning electron microscopyPawley, James · Journal of Microscopy · 1984
Cryoprotection in electron microscopyJournal of Microscopy · 1986
Noninvasive fluorescence imaging of small animalsZELMER, A.; WARD, T.H. · Journal of Microscopy · 2013