Contactless electroreflectance study of strained Zn[sub 0.79]Cd[sub 0.21]Se/ZnSe double quantum wells

Tu, R. C.; Su, Y. K.; Lin, D. Y.; Li, C. F.; Huang, Y. S.; Lan, W. H.; Tu, S. L.; Chang, S. J.; Chou, S. C.; Chou, W. C.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Tu, R. C.; Su, Y. K.; Lin, D. Y.; Li, C. F.; Huang, Y. S.; Lan, W. H.; Tu, S. L.; Chang, S. J.; Chou, S. C.; Chou, W. C.
卷第83卷
期第2期
印刷ISSN0021-8979
文件大小366.06KB
发表时间1998
DOI10.1063/1.366795

发现好书期刊，享受阅读乐趣